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等离子去胶机

此设备广泛应用于光刻、刻蚀、注入等工艺后的晶圆表面处理。设备通过干法(等离子体)或湿法(化学溶液)方式,将光刻过程中残留在晶圆表面的光刻胶和有机污染物彻底去除,保障后续工艺的清洁度与良率。 设备支持多种晶圆尺寸(如 4–8 英寸),可配置自动上下片系统、温控功能、残留颗粒过滤系统及化学药液循环系统,适应不同制程条件。典型干法去胶系统采用高效氧等离子体源,具有反应均匀、处理速度快、环境友好等优势;湿法系统则通过高温化学溶剂处理,适用于厚胶、高残留或复杂结构清洗。 去胶机适用于集成电路、功率器件、MEMS、化合物半导体、显示器和传感器等多种制造领域,是实现高质量图形转移、刻蚀后洁净以及提升器件可靠性的基础设备之一。

产品描述

一体化设计: 占地面积0.8m*0.8m (参考)

腔室正下方抽真空: 更好的工艺均匀性

均匀进气:可根据用户需求更改进气方式

可配置等离子体放电距离:根据预设参数进行调整

成本或性能导向可选:可根据客户需求提供定制化解决方案

取片方式:开盖取放片

产品参数

晶圆尺寸: 4, 6, 8, 12寸或多片晶圆可选

刻蚀材料: 有机物(PR/PMMA/PS纳米球等) , 2D材料( MoS2/BN/石墨烯等) , 失效分析等.

真空系统: 机械泵

射频功率: 多种量程可选, 满量程300-1000w可选

气体系统: 标配2路或定制

晶圆冷却: 水冷

样品控温: 从5℃ - 200℃, 可选

不均匀性: 小于± 5 % (去边)


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