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FEI Axia
FEI Axia

Thermo Scientifi Axia ChemiSEM

Thermo Scientific™ Axia™ ChemiSEM 引入一种全新的能谱分析概念,采用独特方法进行样品成分信息的采集、处理和展示。传统能谱会利用二次电子或背散射电子信息,却不利用其图像进行数据处理,因而数据获取速度较慢,而且图像分辨率相对粗糙。相比而言,Axia ChemiSEM 采集数据所用的是同一扫描发生器,将扫描电镜图像与能谱图像完美对中,因而图像更加锐利,图像噪音更少。另外,此外,脉冲处理采用自适应脉冲整形技术,确保各种条件下均能获得可靠数据。元素分布图通过定量算法形成,因此,所显示的成分数据可靠,且结果中不会出现重叠峰误判等。专有的阴影检测算法帮助确保信息来自于 检测到X射线的区域。

产品描述

专为快速获取样品成像与元素信息而设计。借助独特的同步扫描和脉冲整形技术,该系统可实现图像与元素分布的精准对准,显著提升数据采集速度与准确性.系统配备灵活的大样品仓、强大的低真空模式和用户友好的图形界面,适合材料科学、冶金、电子等领域的成分分析与表征需求。实时成分信息:同步扫描获取多种信号时执行能谱分析,实时检测形 貌与元素信息 成像平台即时可用:只需专注数据采集,不必忧虑电镜条件设置 更快获得数据:多种成像和扫描策略,优化图像采集效果并提升系统 处理能力 灵活的样品台设计:全开门式设计.大样品可轻松放入样品仓内;样品台可容纳重达 10 kg 的样品 卓越的成像性能:提供低真空模式和电子束减速模式用于消除荷电效应

产品参数

成像与分辨率

项目                     参数

加速电压范围        200V ~ 30kV

最大束流               2 μA

分辨率(高真空SE)  3.0nm @ 30kV; 8.0nm @ 3kV

分辨率(低真空SE)  10nm  @ 3kV; 3.0nm @ 30kV

分辨率(BSE模式)   4.0nm @ 30kV

放大倍率               5x - 1,000,000x


探测器系统

ETD 二次电子探测器

背散射电子探测器(可伸缩)

低真空二次电子探测器

TrueSight X EDS 探测器(分辨率 129 eV,可选 LX 版)

Nav-Cam™ 导航相机

阴极荧光探测器(可选)

 

样品台与样品仓

项目                    参数

样品台               五轴电动, XY 120 mm, Z 55 mm, 旋转 360° , 倾斜 -15° ~+90°

最大样品重量  10kg (移除ZTR轴), 标准最多500 g

最大样品尺寸  高达 128 mm

样品仓直径      280mm, 10个端口, 支持双EDS对称安装


真空系统

高真空抽气时间:≤2 分钟

低真空抽气时间:≤4.5 分钟

最大低真空压力:150 Pa

'穿透透镜'压差系统,有效减小束散与荷电效应

 

020-38699788

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